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Clase 16 - Práctica: Caracterización de un fotomultiplicador de silicio

Instructores(as)

  • Carlos Sandoval, (UNAL, Colombia)
  • Christian Sarmiento, (UIS, Colombia)
  • Dennis Cazar Ramírez (USFQ, Ecuador)
  • Deywis Moreno, (UAN, Colombia)
  • Oscar Baltuano, (UNMSM, Perú)]
  • Reina Camacho Toro, (CNRS/CERN, Francia y Suiza)

Objetivos de la clase

  • Determinar algunos de los parámetros óptimos de digitalización de señales provenientes de SiPMs
  • Obtener la respuesta espectral del sensor Hamamatsu S10362‐11‐100C utilizando un LED pulsado ultra rápido.
  • Comprobar experimentalmente la dependencia de la tasa de cuentas oscuras (Dark Count Rate - DCR) obtenidas en función del voltaje umbral del discriminador (Threshold)
  • Determinar la ganancia del fotomultiplicador
  • Comprobar experimentalmente la dependencia de la ganancia del fotomultiplicador con el voltaje de polarización (BIAS)
  • Obtener la resolución del SiPM

Al finalizar estos contenidos

Tras desarrollar esta sesión y dedicar las horas de trabajo independiente cada estudiante debe estar en capacidad de:

  • Explicar cuáles son los procesos de interacción entre los fotones y la materia
  • Identificar los elementos esenciales de un montaje experimental para un experimentos simple de caracterización de un SiPM
  • Caracterizar dicho sistema básico de detección de fotones

Actividades preparatorias

Material de apoyo

Videos de la clase

  • Caracterización de un SiPM: los fundamentos físicos
  • Caracterización de un SiPM: montaje experimental y la toma de datos

Actividades luego de la clase